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·         高解析度場發射型掃描式電子顯微鏡(SEM)                                       儀器列表

儀器負責教授:材料所 黃榮潭

聯絡分機: 6418

主要儀器:
1. Hitachi SEM S-3400N電子顯微鏡

2. Hitachi FESEM S-4800電子顯微鏡

預約網址https://docs.google.com/forms/d/e/1FAIpQLSeFNXOMnYqptBbdYZjYLku-SDRitIIIQLt7Z8ueEM7ueSXrpw/viewform?pli=1&pli=1

收費標準:

服務項目

工作內容

收費標準

SEM (不含EDS) 服務

非生物,非揮發性試片表面微觀結構之觀察及照相

(1) 所內自行操作:750/小時
(2) 
校內自行操作:500/小時
(3) 
校外委託操作:700/小時

(4) 儲存影像檔:免費
(
一次拍攝為3小時,未滿1小時以0.5小時計,超過1小時、未滿3小時以3小時計。)

SEMEDSBEI服務

(1) 微區顯微成分之定性及半定量分析
(2) 
微區line-scan dot-mappingSpot分析及成像

(1) 所內委託操作:875/小時

(2) 校內自行操作:600/小時

(3) 校外委託操作:800/小時
(4) 
儲存影像檔:免費
(
一次拍攝為3小時,未滿1小時以0.5小時計,超過1小時、未滿3小時以3小時計。)

試片鍍金鍍碳服務

非導體、粉體等試片作導電層處理

 鍍金,每次100

儀器介紹:

1. Hitachi SEM S-3400N電子顯微鏡

名稱

Hitachi SEM S-3400N

放置地點

綜合研究中心材料所303

負責教授

黃榮潭老師

儀器管理員

莊忠翰

儀器管理員
聯絡方式

校內分機:6418

校外請撥:(02)246221926418

儀器簡介

高低真空掃描式電子顯微鏡

機型︰Hitachi  S-3400N及附屬之EDS

服務項目

1.非生物、非揮發性試片表面微觀結構之觀察及照相
2.SEM
影像:高解析度,倍率可達十萬倍以上,主要作如表面、剖面之觀察及照相
3.
微區顯微成分之定性及半定量分析

:

(1)含鐵、鈷、鎳等磁性試片或會造成儀器損壞之試片嚴禁使用,如發生損壞,維修費用需自行負責。

(2)取消預約必須在實驗日前三天前聯絡管理員,未告知照常收費。

開放預約時間

 : 00:00 ~ 17:00 

開放使用時間

 電洽

 

2. Hitachi FESEM S-4800電子顯微鏡

HR-FESEM S-4800電子顯微鏡

http://www.siuc.ntou.edu.tw/siuc/image/instrument/sem.jpg

名稱

HR-FESEM S-4800

放置地點

綜合研究中心材料所303

負責教授

黃榮潭老師

儀器管理員

莊忠翰

儀器管理員
聯絡方式

校內分機:6418

校外直撥:(02)246221926418

儀器簡介

高解析度場發射型掃描式電子顯微鏡,機型︰Hitachi Field-Emission S-4800及附屬之EDS

服務項目

1.非生物、非揮發性試片表面微觀結構之觀察及照相
2.SEM
影像:高解析度,倍率可達十萬倍以上,主要作如表面、剖面之觀察及照相
3.
微區顯微成分之定性及半定量分析

:

(1)含鐵、鈷、鎳等磁性試片或會造成儀器損壞之試片嚴禁使用,如發生損壞,維修費用需自行負責。

(2)取消預約必須在實驗日前三天前聯絡管理員,未告知照常收費

 

開放預約時間

 : 00:00 ~ 15:00

開放使用時間

 : 09:00 ~ 12:00
 : 09:00 ~ 12:00  
 : 09:00 ~ 12:00 

 : 09:00 ~ 12:00  13:30 ~ 16:30  
 : 09:00 ~ 12:00  

相關資料
(最新訊息請電洽該實驗室) 

 

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